一．测试说明

第九轮发布器件数据由国家半导体器件质量监督检验中心（中电科第十三所）测试提供，数据包括20mA下白光、绿光、蓝光器件测试结果、350mA下白光光光源测试结果。测试方法标准为SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法。

二. 测试结果

图1. 20mA白光器件测试结果数据

图2. 20mA白光器件CRI和CCT随光效变化情况

图3. 20mA下绿光器件测试结果数据

图4. 20mA下绿光器件光通量和光效随电压变化情况

图5. 20mA下蓝光器件测试结果数据

图6. 20mA下蓝光器件光功率和光效随电压变化情况

图7. 350mA白光光源模组测试结果数据

图8.350mA白光光源模组 CRI和CCT随光效变化情况